正電子測(cè)試指的是正電子湮沒(méi)技術(shù)，這是一種利用正電子在凝聚物質(zhì)中的湮沒(méi)輻射來(lái)探測(cè)和表征物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的核物理技術(shù)。當(dāng)正電子（即電子的反粒子）遇到負(fù)電子時(shí)，它們會(huì)發(fā)生湮沒(méi)并轉(zhuǎn)化為兩個(gè)方向相反、能量為511keV的γ光子。通過(guò)探測(cè)這些γ光子，可以獲得有關(guān)物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的信息。正電子在材料中具有一定的壽命和擴(kuò)散長(zhǎng)度，其壽命與材料內(nèi)部的電子密度、缺陷狀態(tài)等因素有關(guān)。因此，通過(guò)測(cè)量正電子的壽命和多普勒展寬等參數(shù)，可以推斷出材料的微觀結(jié)構(gòu)和缺陷信息。

服務(wù)范圍

固體材料（常規(guī)測(cè)試模式，粉末、塊狀、較厚薄膜可測(cè)）

液體材料（需要定制測(cè)試）

測(cè)試條件

1、常溫常濕（常規(guī)測(cè)試模式） ；2、氮?dú)猓?、氬氣；4、真空。

可提供測(cè)試數(shù)據(jù)

1、正電子湮沒(méi)壽命譜+壽命強(qiáng)度解譜（常規(guī)測(cè)試模式）；

2、壽命分布 

3、自由體積分布

測(cè)試原理

測(cè)試案例

特別說(shuō)明